PLI弱吸收測試儀是一款基于熱透鏡效應(yīng)，對激光光學(xué)元件的弱吸收具有高靈敏度的測試儀，可廣泛應(yīng)用于晶體材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
    應(yīng)用光熱透鏡原理，利用一束泵浦激光照射樣品待測區(qū)域，該區(qū)域由于熱透鏡效應(yīng)從而產(chǎn)生表面形變分布或體內(nèi)折射率梯度分布。同時(shí)采用另一束探測激光照射在樣品同一區(qū)域，透射過樣品的探測光光熱信號包含表面形變或折射率變化的振幅和相位等信息。光熱信號由光電探測器收集，通過探測光中心光強(qiáng)的變化表征，光熱信號再經(jīng)鎖相放大器轉(zhuǎn)換為可分析處理的電信號，最終計(jì)算得到被測樣品的吸收值。