生長紋測試儀/紋影儀 GSM 50是一款專業(yè)利用紋影法觀測晶體或光學元件生長紋的設備，通過先進的紋影法技術，將微小的折射率差異轉(zhuǎn)化為明顯的明暗對比，實現(xiàn)對被測物密度分布的精確觀測。

產(chǎn)品原理

    生長紋測試儀/紋影儀 的原理是基于紋影法。通常在難以可視化的透明固體、氣體、液體中，光的折射率也因密度梯度而異。這是一種將折射率的細微變化變成大的明暗差來觀測的裝置。透明氣體、液體和固體中的不均勻狀態(tài)作為密度梯度，通過的光可以彎曲。紋影法是利用折射率（光的前進方向）的變化可視化的光學觀測方法。

    設備利用點光源的光經(jīng)過透鏡形成平行光束，放入被測物后聚焦，并在焦點處放置刀片。通過調(diào)整刀片邊緣至適當視野，折射光線在刀片邊緣附近變暗，遠離刀片邊緣處變亮，從而清晰呈現(xiàn)被測物的密度分布情況。由此，被測量物的密度分布被觀察為明暗對比度。

產(chǎn)品參數(shù)

各部件名稱

產(chǎn)品優(yōu)勢

• 精確測量 ：基于先進的紋影法技術，可用于晶體生長紋路觀察與分析，研究晶體生長的關鍵參數(shù)，對于優(yōu)化晶體性能和材料研究具有重要意義。為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

• 操作簡便 ：設備設計簡潔，各部件布局合理，易于操作和維護，同時配備詳細的《使用說明書》，方便用戶快速上手。

適用范圍

    廣泛應用于晶體生長研究、光學材料檢測等領域，適用于對透明固體、氣體、液體中密度梯度引起的折射率變化進行觀測和分析的科研機構、高校實驗室以及相關生產(chǎn)企業(yè)。