PLI弱吸收測(cè)試儀是一款基于熱透鏡效應(yīng)，對(duì)激光光學(xué)元件的弱吸收具有高靈敏度的測(cè)試儀，可廣泛應(yīng)用于晶體材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
應(yīng)用光熱透鏡原理，利用一束泵浦激光照射樣品待測(cè)區(qū)域，該區(qū)域由于熱透鏡效應(yīng)從而產(chǎn)生表面形變分布或體內(nèi)折射率梯度分布。同時(shí)采用另一束探測(cè)激光照射在樣品同一區(qū)域，透射過(guò)樣品的探測(cè)光光熱信號(hào)包含表面形變或折射率變化的振幅和相位等信息。光熱信號(hào)由光電探測(cè)器收集，通過(guò)探測(cè)光中心光強(qiáng)的變化表征，光熱信號(hào)再經(jīng)鎖相放大器轉(zhuǎn)換為可分析處理的電信號(hào)，最終計(jì)算得到被測(cè)樣品的吸收值。

儀器布局說(shuō)明

雙光路集成在一個(gè)測(cè)試平臺(tái)上，方便光源切換，操作便捷。其他雙波長(zhǎng)光路結(jié)構(gòu)與上述類(lèi)似。

PLI 主機(jī)帶有電源端口以及通訊端口，通訊端口與鎖相放大器、電腦建立連接，確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定傳輸。

產(chǎn)品特點(diǎn)

*選用優(yōu)質(zhì)光學(xué)元件,以最優(yōu)的價(jià)格選配最佳的光學(xué)元件，提升PLI系統(tǒng)性能

*功能豐富的測(cè)量軟件集成了各組成系統(tǒng)的控制，直觀易用的操作頁(yè)面可在過(guò)程中同步觀察測(cè)量結(jié)果

*可根據(jù)需求定制多泵浦光源的檢測(cè)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)一維、二維吸收及分布的測(cè)量

應(yīng)用領(lǐng)域

*光學(xué)、晶體材料吸收

*光學(xué)薄膜吸收

*表面缺陷分析(拋光、鍍膜工藝輔助改善、膠合/鍵合質(zhì)量分析等)

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

測(cè)試案例